TOMOGRAFIA DE IMPEDÂNCIA ELÉTRICA: MÉTODOS COMPUTACIONAIS

Grande parte do sucesso da medicina moderna se deve ao desenvolvimento das técnicas de diagnósticos por imagem, tais como a tomografia computadorizada, a ultrassonografia e a ressonância magnética nuclear. Dentre essas técnicas, a tomografia de impedância elétrica (TIE) vem chamando a atenção de pesquisadores das mais diferentes áreas . Considerada uma técnica não invasiva e de baixo custo, a TIE vem ganhando maturidade nas ultimas décadas e muito esforço tem sido despendido, tanto no aperfeiçoamento da parte instrumental como no desenvolvimento de algoritmos numéricos. Este livro é uma introdução a alguns métodos computacionais aplicados á TIE. Com uma linguagem didática e simples, o texto discorre sobre a formulação matemática do problema da reconstrução da imagem na TIE e faz uma revisão sobre problemas inversos, técnicas de regularização e métodos de otimização. Mais especificamente , o texto apresenta o Método dos Elementos de Contorno como técnica para resolver numericamente o problema direto ( composto pela equação de Laplace e condições de contorno) e o algoritmo de otimização estocástico Simulated Annealing para tratar do problema inverso.